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它是一種通過使用顯微光譜測量微小區域內的優良反射率，實現高精度膜厚和光學常數分析的設備。 可以以非破壞性和非接觸的方式測量各種薄膜、晶片、光學材料和多層薄膜等鍍膜的厚度。可進行1秒/點測量時間的高速測量。它還配備了軟件，即使是初學者也可以輕松分析光學常數。
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能夠從低亮度到高亮度進行高速、高精度測量的光譜輻射亮度計。 大冢電子獨特的光譜光學設計和信號處理電路采用電子冷卻線陣傳感器，實現了在寬亮度范圍和波長范圍內的低噪聲和高精度測量。
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支持紫外到近紅外區域的多功能多通道光譜檢測器。光譜光譜可以在*少 5 ms 內測量。標準光纖可以在不指定樣品類型的情況下支持各種測量系統。除了顯微光譜、光源發射、透射/反射測量外，還可以通過結合軟件支持物體顏色評估、膜厚測量等。
